FIB（焦点离析离子束）和CP（化学激发电容排列）分析是两种不同的分析方法。

FIB分析是一种基于离子束加工的方法，通过使用高能离子束对样品进行切割和刻蚀，然后利用扫描电镜观察并获取样品表面的形貌和结构信息。而CP分析则是一种基于化学物质激发的方法，通过对样品施加电场和/或化学刺激，然后观察并分析样品在反应过程中的电荷排列变化。

总的来说，FIB分析更侧重于样品表面的形貌和结构分析，而CP分析则更侧重于样品的化学物质变化分析。